מנתח עפרות נייד HZK2621 הוא מוצק ועמיד, אשר ניתן ליישום היכן שיש דרישות אנליטיות קשות ביותר בסביבות קשות. כל מכשיר משתמש בטכנולוגיית ה-KMX החדשה של KMX-RAY, המהווה חידוש בעיבוד אותות XRF, המספקת תוצאות מדויקות וניתנות לשחזור ובכך מאפשרת למשתמשים להשיג פרודוקטיביות גבוהה יותר ולקבל החזר מהיר על ההשקעה.
HZK2621 יכול לשמש לניתוח שדה של מגוון עפרות. מערכת ניתוח צינורות רנטגן בוגרת, שעברה את מבחן השטח, נקייה מאיזוטופ רדיואקטיבי. ניתן להשתמש בו ללימוד עפרות מהיר ומקיף במהלך ניתוח שדה. יש לו דרישות מדגם נמוכות, אבל מספק תוצאות בדיקה מדויקות. הוא מסוגל לנתח במדויק דגימות בריכוז גבוה, ובכך להימנע מבדיקות אימות במעבדה. מנתח כף יד KMX-RAY HZK2621 מתאים לניתוח רב-אלמנטים של עפרות. זה מיושם באופן נרחב באיתור וניתוח של עפרות, כמו גם ניתוח זיקוק סיגים ומחקר ארכיאולוגי. זה ישים על כל עפרות טבעיות מזרחן לאורניום, סיגים, סלע, בוץ ותרחית, כולל עפרות זהב, עפרות כסף, עפרות נחושת, עפרות ברזל, עפרות בדיל, עפרות אבץ, עפרות ניקל, עפרות מוליבדן, עפרות אירידיום, עפרות ארסן. עפרות עופרת, עפרות טיטניום, עפרות אנטימון, עפרות מנגן, עפרות ונדיום, עפרות יוד, עפרות גופרית, עפרות אשלגן, עפרות פוספט, עפרות אורניום וכו'. דגימות הבדיקה כוללות מוצק, נוזל, אבק, אבקה, מוצק, שבר, תסנין, סרט וחפצים מוחשיים אחרים.

רָאשִׁיAבקשות
מנתח העפרות הידני משמש לניתוח מהיר וקביעה של יסודות לא ברזליים בכרייה, גיאולוגיה, סביבת קרקע, משקעים ומשקעים.
בהסתמך על הניסיון המו"פ של KMX-RAY בספקטרומטר הקרינה של קרני רנטגן (ספקטרומטר כף יד) במשך שנים, הדור החדש של מנתח עפרות XRF כף יד KMX HZK2621 שוב הביא מהפכה בתחום הניתוח.
עם הטכנולוגיה הרב-ערוצית הדיגיטלית, HZK2621 מביא מגבלת זיהוי נמוכה יותר, יציבות גבוהה יותר, ישימות טובה יותר וביצועים מצוינים בהשוואה למחשבים שולחניים; בנפח קל וקומפקטי, המנתח נותן משחק מלא בחיפוש פשוט וקל יותר, חקירה וזיהוי וניתוח רב-אלמנטים של דגימות גיאולוגיות שונות.
מנתח עפרות כף יד HZK2621 יכול לשמש לניתוח שדה של מגוון עפרות. מערכת ניתוח צינורות רנטגן בוגרת, שעברה את מבחן השטח, נקייה מאיזוטופ רדיואקטיבי. ניתן להשתמש בו ללימוד עפרות מהיר ומקיף במהלך ניתוח שדה. יש לו דרישות מדגם נמוכות, אבל מספק תוצאות בדיקה מדויקות. הוא מסוגל לנתח במדויק דגימות בריכוז גבוה, ובכך להימנע מבדיקות אימות במעבדה.
מפרטיםOf HZK2621 Hומחזיקים XRF
מנתח קרינה רנטגן מהיר ומדויק במיוחד
|
תצורה ראשית |
1. מארח מנתח עפרות אחד; 2. מדגם סטנדרטי אחד; 3. שתי סוללות ליתיום נטענות מקוריות; 4. מטען וכבל חשמל; 5. דיסק הבזק מסוג USB אחד (32G); 6. חמישה סרטי פוליפרופילן מחוזקים; 7. קופסה ניידת סטנדרטית אחת חסינת לחות וחסינת זעזועים. |
|
מצב רגיל |
מצב עפרה; מצב אופציונלי: מצב ניתוח סגסוגת ומצב ניתוח קרקע |
|
פונקציית אבחון עצמי |
מוצר זה מסוגל לאבחן אוטומטית את החומרה, התוכנה, הרשת והסוללה, וליצור יומנים לפתרון בעיות מהיר. |
|
מערכת הפעלה |
מערכת הפעלה מאובטחת Windows CE 6.0 |
|
שיטת בדיקה |
שיטת פרמטר בסיסית, התומכת בשיטת המקדם האמפירי לתיקון מגע הנקודה או הפעלת שליטה בבדיקה, ללא הפעלה ממושכת בכל תהליך הבדיקה. לחלופין, לחץ והחזק את ההדק כדי לבדוק דוגמאות לפי בקשת הלקוחות. |
|
לְסַנֵן |
8 מסננים, למעבר אוטומטי על סמך רכיבי בדיקה; |
|
מקור ריגוש |
שפופרת רנטגן מיקרו ישרה בעלת הספק גבוה, חומר מטרה W, שפופרת רנטגן בעלת הספק גבוה של 4W, מתח שפופרת 50KV, זרם עד 100μA; טכנולוגיית KMX, קצב ספירת קרני רנטגן גבוה יותר, רעש אלקטרוני נמוך במיוחד. אין צורך בדגימת תקן חיצונית בכל מבחן. האנרגיה מכוילת ונבדקת אוטומטית במהלך הבדיקה. |
|
גַלַאִי |
Moxtek Si-pin (6 מ"מ) Amptek Si-pin (25 מ"מ) גלאי KETEK SDD |
|
רכיבי בדיקה |
ניתן להשתמש במוצר לניתוח יסודות מתכת בעפרות ובאדמה, כגון Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Hf, Ta, W, Hg, Se, Au, Br, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Re, Ir, Pt, Hg, Ru, Rh, Pd וכו' (אדום מציין את התצורה של גלאי SDD .) |
